更新時(shí)間：2023-12-22
CRDR性能檢測模體工具箱*符合JJG 1078-2012醫(yī)用數(shù)字?jǐn)z影（CR、DR）系統(tǒng)X射線輻射源檢定規(guī)程的要求。
供應(yīng)CRDR性能檢測模體
包含：CRDR性能檢測模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。包含：CR/DR性能檢測模體（可選），低對(duì)比度分辨力模體,0.1毫米鉛當(dāng)量分辨率測試卡,實(shí)時(shí)焦點(diǎn)測量儀,
數(shù)字影像綜合測試卡,衰減模體,透射式黑白密度計(jì)。
備注：可根據(jù)自己的實(shí)際要求選配。
北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司
地址：海淀區(qū)二里莊5號(hào)樓102室
© 2024 版權(quán)所有：北京偉信楚華商貿(mào)有限責(zé)任公司 備案號(hào)：京ICP備06053975號(hào)-2 總訪問量：130351 站點(diǎn)地圖 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸
發(fā)郵件給我們：tonyhualee@163.com